«Методы и возможности in-line контроля тонкопленочных материалов в производстве субмикронных интегральных микросхем», В. Ю. Васильев o'xshash kitoblar

rus tilida
Matn
O'rtacha reyting 5, 2 ta baholash asosida
46 231,29 s`om
rus tilida
Matn
O'rtacha reyting 4,6, 8 ta baholash asosida
14 439 s`om
rus tilida
Matn
O'rtacha reyting 4,9, 391 ta baholash asosida
13 114,32 s`om
ingliz tilida
Matn
O'rtacha reyting 5, 1 ta baholash asosida
bepul
rus tilida
Matn
O'rtacha reyting 4,9, 143 ta baholash asosida
13 114,32 s`om