«Методы и возможности in-line контроля тонкопленочных материалов в производстве субмикронных интегральных микросхем», В. Ю. Васильев o'xshash kitoblar
O'rtacha reyting 3,7, 60 ta baholash asosida3,760 73 869,57 s`om
246 231,88 s`om
O'rtacha reyting 4,6, 26 ta baholash asosida4,626 O'rtacha reyting 4,5, 26 ta baholash asosida4,526 O'rtacha reyting 4, 18 ta baholash asosida418 O'rtacha reyting 3,9, 129 ta baholash asosida3,9129 95 608,70 s`om
318 695,65 s`om
O'rtacha reyting 4,1, 81 ta baholash asosida4,181 O'rtacha reyting 4,1, 60 ta baholash asosida4,160 73 869,57 s`om
246 231,88 s`om
O'rtacha reyting 3,2, 11 ta baholash asosida3,211 O'rtacha reyting 4,1, 11 ta baholash asosida4,111 73 869,57 s`om
246 231,88 s`om
O'rtacha reyting 4,7, 109 ta baholash asosida4,7109 O'rtacha reyting 4,3, 6 ta baholash asosida4,36 O'rtacha reyting 3,9, 46 ta baholash asosida3,946 95 608,70 s`om
318 695,65 s`om
O'rtacha reyting 4,2, 13 ta baholash asosida4,213 O'rtacha reyting 5, 2 ta baholash asosida52 O'rtacha reyting 3,3, 47 ta baholash asosida3,347 O'rtacha reyting 4,4, 266 ta baholash asosida4,4266 95 608,70 s`om
318 695,65 s`om
O'rtacha reyting 4,7, 1408 ta baholash asosida4,71408 O'rtacha reyting 5, 2 ta baholash asosida52 O'rtacha reyting 4,6, 182 ta baholash asosida4,6182 O'rtacha reyting 4, 38 ta baholash asosida438 O'rtacha reyting 5, 17 ta baholash asosida517 65 130,43 s`om
108 550,72 s`om