Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Matn PDF
Hajm 43 sahifa
2013 yil
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
17 386,26 s`om
Kitob haqida
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Janrlar va teglar
Kiring, kitobni baholash va sharh qoldirish uchun
Книга Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — читать онлайн на сайте. Оставляйте комментарии и отзывы, голосуйте за понравившиеся.
Yosh cheklamasi:
0+Litresda chiqarilgan sana:
29 mart 2018Yozilgan sana:
2013Hajm:
43 Sahifa Umumiy o'lcham:
748 КБUmumiy sahifalar soni:
43Mualliflik huquqi egasi:
МИСиС