Faqat Litresda o'qing

Kitobni fayl sifatida yuklab bo'lmaydi, lekin bizning ilovamizda yoki veb-saytda onlayn o'qilishi mumkin.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
ТекстmatnPDF

Hajm 43 sahifalar

2013 yil

0+

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

mualliflar
Дмитрий Крутогин,
Олег Рабинович
PDF
0
Izoh qoldirish
ru
Kitob rus tilida
Faqat Litresda o'qing

Kitobni fayl sifatida yuklab bo'lmaydi, lekin bizning ilovamizda yoki veb-saytda onlayn o'qilishi mumkin.

15 645,37 s`om
10% chegirma bering
Maslahat bering ushbu kitobni do'stingiz sotib olganidan 1 564,54 soʻm oling.

Kitob haqida

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Izoh qoldiring

Kirish, kitobni baholash va sharh qoldirish
Kitob Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — veb-saytda onlayn o'qing. Fikr va sharhlar qoldiring, sevimlilarga ovoz bering.
Yosh cheklamasi:
0+
Litresda chiqarilgan sana:
29 mart 2018
Yozilgan sana:
2013
Hajm:
43 Sahifa
Umumiy o'lcham:
748 КБ
Umumiy sahifalar soni :
43
Mualliflik huquqi egasi:
МИСиС

Ushbu kitob bilan o'qiladi

Muallifning boshqa kitoblari