Читайте только на Литрес

Kitobni fayl sifatida yuklab bo'lmaydi, lekin bizning ilovamizda yoki veb-saytda onlayn o'qilishi mumkin.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Hajm 43 sahifa

2013 yil

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

mualliflar

Читайте только на Литрес

Kitobni fayl sifatida yuklab bo'lmaydi, lekin bizning ilovamizda yoki veb-saytda onlayn o'qilishi mumkin.

19 426,91 s`om

10% chegirma bering

Maslahat bering ushbu kitobni do'stingiz sotib olganidan 1 942,70 soʻm oling.

Kitob haqida

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Janrlar va teglar

MaterialshunoslikTajribalar

Kiring, kitobni baholash va sharh qoldirish uchun

Kitob Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — veb-saytda onlayn o'qing. Fikr va sharhlar qoldiring, sevimlilarga ovoz bering.

Yosh cheklamasi:

Litresda chiqarilgan sana:

29 mart 2018

Yozilgan sana:

2013

Hajm:

43 Sahifa

Umumiy o'lcham:

748 КБ

Umumiy sahifalar soni :

Mualliflik huquqi egasi:

МИСиС