10% chegirma bering
Maslahat bering ushbu kitobni do'stingiz sotib olganidan 1 756,96 soʻm oling.
matnPDF
Hajm 43 sahifalar
2013 yil
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
17 569,55 soʻm
Kitob haqida
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Janrlar va teglar
Izoh qoldiring
Kirish, kitobni baholash va sharh qoldirish
Kitob tavsifi
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Kitob Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — veb-saytda onlayn o'qing. Fikr va sharhlar qoldiring, sevimlilarga ovoz bering.
Yosh cheklamasi:
0+Litresda chiqarilgan sana:
29 mart 2018Yozilgan sana:
2013Hajm:
43 Sahifa Umumiy o'lcham:
748 КБUmumiy sahifalar soni :
43Mualliflik huquqi egasi:
МИСиС
