Читайте только на Литрес

Kitobni fayl sifatida yuklab bo'lmaydi, lekin bizning ilovamizda yoki veb-saytda onlayn o'qilishi mumkin.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Matn PDF

Hajm 43 sahifalar

2013 yil

0+

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

Читайте только на Литрес

Kitobni fayl sifatida yuklab bo'lmaydi, lekin bizning ilovamizda yoki veb-saytda onlayn o'qilishi mumkin.

18 026,14 s`om
10% chegirma bering
Maslahat bering ushbu kitobni do'stingiz sotib olganidan 1 802,62 soʻm oling.

Kitob haqida

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Janrlar va teglar

Kiring, kitobni baholash va sharh qoldirish uchun
Kitob Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — veb-saytda onlayn o'qing. Fikr va sharhlar qoldiring, sevimlilarga ovoz bering.
Yosh cheklamasi:
0+
Litresda chiqarilgan sana:
29 mart 2018
Yozilgan sana:
2013
Hajm:
43 Sahifa
Umumiy o'lcham:
748 КБ
Umumiy sahifalar soni :
43
Mualliflik huquqi egasi:
МИСиС
Qoralama
O'rtacha reyting 4,7, 71 ta baholash asosida
Matn
O'rtacha reyting 4,7, 384 ta baholash asosida
Audio
O'rtacha reyting 4,2, 757 ta baholash asosida
Qoralama
O'rtacha reyting 4,4, 13 ta baholash asosida
Matn, audio format mavjud
O'rtacha reyting 4,9, 145 ta baholash asosida
Audio
O'rtacha reyting 4,7, 1798 ta baholash asosida
Matn
O'rtacha reyting 3,7, 51 ta baholash asosida
Matn
O'rtacha reyting 4,8, 32 ta baholash asosida