10% chegirma bering
Maslahat bering ushbu kitobni do'stingiz sotib olganidan 4 900,01 soʻm oling.
Основной контент книги Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
matnPDFHajm 94 sahifalar
2006 yil
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
49 000 s`om
Kitob haqida
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций.
Janrlar va teglar
Kirish, kitobni baholash va sharh qoldirish
Kitob Владимира Бублика, Андрея Мильвидского «Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия» — veb-saytda onlayn o'qing. Fikr va sharhlar qoldiring, sevimlilarga ovoz bering.
Yosh cheklamasi:
0+Litresda chiqarilgan sana:
28 mart 2018Yozilgan sana:
2006Hajm:
94 Sahifa Umumiy o'lcham:
8.8 МБUmumiy sahifalar soni :
94Mualliflik huquqi egasi:
МИСиС
