Kechiktirilganlar
Savat
Kirish
Mening kitoblarim
Химико-технологические основы микро- и наноэлектроники
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть 2
Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии
Izoh qoldiring